Exact Metrology 3D掃描儀在檢測(cè)和分析領(lǐng)域中的應(yīng)用Exact Metrology的掃描儀和便攜式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可以對(duì)物體進(jìn)行精確還原,生成3D測(cè)量數(shù)據(jù),用于測(cè)量、檢測(cè)、比較及報(bào)告等。系統(tǒng)可以用數(shù)百萬(wàn)個(gè)點(diǎn)對(duì)測(cè)量物體進(jìn)行標(biāo)記,便于用戶查看物體的細(xì)部差異,從而滿足模型制作的復(fù)雜要求。我們將3D掃描儀與接觸式探針測(cè)量工具相結(jié)合,確保幫助用戶測(cè)量出幾何形體的精確外形尺寸。
采集測(cè)量數(shù)據(jù)以后,使用精密的軟件程序進(jìn)行后期處理,可生成3D彩色圖紙、首件檢驗(yàn)報(bào)告、統(tǒng)計(jì)流程報(bào)告以及3D模型,從而便于進(jìn)行計(jì)算機(jī)模擬和分析。
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